仪器型号:S-3400N
仪器厂家:日本日立公司
仪器原价:135万元
主要技术指标:
SE分辨率:3.0 nm (30 kV),高真空模式
10 nm (3 kV),高真空模式
BSE分辨率: 4.0 nm (30 kV),低真空模式
放大倍率:×15~×300,000
加速电压: 0.3~30 kV
低真空范围 :6~270 Pa
主要配置:EDAX能谱仪
应用范围:
纳米材料、复合材料、陶瓷材料、金属材料、高分子材料、薄膜材料、建筑材料、生物材料、电子材料、导体与非导体地矿、考古等表面微观形貌观察及成分分析。